I7090 大规模并行电路板测试系统
技术资料
I7090 - 大规模并行电路板测试系统
介绍
为了可以快速且经济高效地测试当今的超高连印刷电路板 (PCB), 是德科技 i7090 电路板测试系统为您提供了一种最佳解决方案。它拥有多达 20 个并行测试内核和 160 个并行烧录通道，可以让您灵活地定制系统以满足您的业务需求。它还配备了具有多达 2560 个 ICT 测试引脚和 18 插槽 PXIe 仪器机箱的经济高效的测试引擎。 在这 600mm 测试引擎里涵盖了测试仪硬件资源、DUT 电源供应器以及系统控制器，这有助于系统的压紧占位面积。
是德科技 i7090 面向未来的设计让您可以随着时间的推移随时添加新的硬件和软件功能，从而帮助您最大限度地提高吞吐量并保护您对这测试仪的投资。
是德科技 i7090 系统摘要
全系统节点能力
- 20 x 128并行 ICT 内核，最高速的用于多连板测试。用户可灵活配置内核组合，单核最多使用 2560个节点
全系统开短路测试能力
- NanoVTEP 非矢量测试 EP
- 测试 IC开路、连接器、开关、保险丝全系统模拟能力
- 2560 个模拟节点
- 短路测试可编程阈值：2-1000 Ω
- 阻抗
- 电容
- 电感
- 二极管、晶体管、FET、保险丝、跳线、开关、电位器测量
- NanoVTEP 非矢量测试开路检测
控制器
- 运行 Microsoft Windows 64-bit 的计算机（专业版）
可选系统附件
- 激光条码阅读器
- 可编程 DUT（被测设备）电源供应器
- 高电流和高电压电源供应器
- 极性检查技术
- 在系统编程 - Flash ISP, 微控制器 和 PLD ISP
- 引脚验证夹具
系统架构
- 测试器资源直接位于夹具接口后面，以获得最佳性能
- 拥有较小的系统占地面积，600 毫米宽，节省空间和循环时间
- 大批量到超大批量制造可减少系统投资并根据需要支持生产测试时间
- 不上电和非矢量测试扩展性能 (Nano VTEP) 技术可实现快速测试吞吐量和高故障覆盖率
- 扩展仪器集成了是德科技OpenTAP 软件，在同一平台内，可实现高效的功能测试测量，并提供支持是德科技和第 3 方PXI仪器
- 烧录功能集成提供160个并行通道的系统内编程，提高系统吞吐量
- 以 CFX/Hermes 和 Keysight Pathwave 为基础，面向工业 4.0
该电路板测试系统由测试引擎、测试引擎控制器和电路板自动化装置组成。该系统建立在模块化的并行架构上，允许未来扩展，同时保持并行测试能力以获得最佳测试速度。系统的硬件架构包括以下特点：
- 多达 20 个可单独控制的 pin 卡（最多 2560 个节点或 20 个内核）和各种模块卡，可随着测试需求的变化快速升级
- 组合内核以测试高引脚数电路板
- 并行运行内核以同时测试多达 20 个 PCB
- 内置测试引擎 LAN，用于高性能测试引擎到控制器的通信
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